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苏州实谱信息科技有限公司

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首页 > 供应产品 > 实谱 x荧光镀层测厚仪XTU-50A 可测异形件 微小件 x荧光测厚仪
实谱 x荧光镀层测厚仪XTU-50A 可测异形件 微小件 x荧光测厚仪
浏览: 728
品牌: 实谱
测量范围: 0-50um
电源电压: 220V
单价: 150000.00元/台
最小起订量: 1 台
供货总量: 9856 台
发货期限: 自买家付款之日起 10 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2021-06-05 10:33
 
详细信息
测量范围 0-50um
电源电压 220V
分辨率 0.005um
精度 来电咨询
类型 镀层测厚仪
外形尺寸 可定制
显示方式 液晶显示
重量 45kg
品牌 实谱
型号 齐全
加工定制
测定对象 电镀层厚度(金银铜镍锡铬锌)

X荧光镀层测厚仪XTU-50A可一机多用,无损检测,**小测量面积0.002mm2,可检测凹槽0-90mm的异形件,轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测。

单涂镀层应用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂镀层应用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

合金镀层应用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用:如NiP/Fe,通过EFP算法,在计算镍磷镀层厚度的同时,还可分析出镍磷含量比例。

重复镀层应用:不同层有相同元素,也可测量和分析。

如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,Ni和第三层Ni的厚度均可测量。

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 研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

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